SmartLab SE
El SmartLab SE es un difractómetro XRD multipropósitoautomatizado con guía inteligente integrada. Ofrece versatilidadpara análisis de polvos, películas delgadas y nanomateriales. Simplifica configuraciones complejas para un uso sencillo.
Guía Inteligente "Guidance"
Automatiza configuración y alineación para mediciones precisas, optimizando el flujo de trabajo en su laboratorio.
Detectores Avanzados HyPix/D/teX
Ofrece análisis 0D/1D/2D rápidos y de alta resolución, expandiendo versatilidad para diversas aplicaciones.
Óptica CBO Automatizada
Cambio rápido de geometría con alineación automática, garantizando datos de ±0.005° en 2θ de reproducibilidad.
Beneficios del SmartLab SE
SMARTLAB SE
El SmartLab SE es un difractómetro XRD multipropósitoautomatizado con guía inteligente integrada. Ofrece versatilidadpara análisis de polvos, películas delgadas y nanomateriales.Simplifica configuraciones complejas para un uso sencillo.
Es excepcional por su sistema Guidance, que optimiza yautomatiza configuraciones y alineaciones. Incorpora detectoresde vanguardia como HyPix-400 y ópticas CBO, lograndomediciones precisas y rápidas.
Usos del PRIMUS IV
El SmartLab SE integra el sistema experto Guidance, automatizando la configuración óptica y alineación. Su reconocimiento de componentes asegura mediciones precisas y usabilidad excepcional, facilitando operaciones avanzadas.
Este equipo ofrece gran versatilidad de aplicaciones y un cambio rápido entre geometrías mediante su unidad CBO. Sus detectores de vanguardia garantizan mediciones 2D y de alta velocidad,esenciales para análisis de calidad.
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Guía inteligente Guidance integrada.
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Detector HyPix-400 y D/teX Ultra250.
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Óptica Cross Beam (CBO) automatizada.
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Generador X-ray sellado 3 kW.
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Software SmartLab Studio II.
La adquisición del SmartLab SE potencia el laboratorio con el sistema experto Guidance, que automatiza configuraciones ópticas y alineaciones, garantizando mediciones precisas y una reproducibilidad excepcional de ±0.005° en 2θ. Este enfoque inteligente optimiza el flujo de trabajo y eleva la calidad de los datos.
Su unidad CBO patentada permite cambios rápidos de geometría, mientras los detectores HyPix-400 y D/teX Ultra250 ofrecen análisis de alta velocidad y resolución. Esta combinación amplía significativamente las aplicaciones, desde difracción de polvohasta SAXS y películas delgadas.