NANOPIX

INSTRUMENTO DE DISPERSIÓN DE RAYOS X DE ÁNGULO PEQUEÑO Y GRAN ANGULAR

SAXS / WAXS avanzados para análisis de nanoestructuras

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Descripción

NANOPIX

El sistema de medición Rigaku NANOPIX SAXS / WAXS es ​​un nuevo instrumento de dispersión de rayos X diseñado para análisis de nanoestructuras. NANOPIX se puede utilizar tanto para mediciones de dispersión de ángulo pequeño (SAXS) como de dispersión de ángulo amplio (WAXS), lo que permite evaluar estructuras de múltiples escalas desde subnanómetros hasta nanoorden (0,1 nm a 100 nm). Alcanza el nivel más alto de resolución de ángulo pequeño (Q min a 0.02 nm -1 ) para un instrumento SAXS de laboratorio.

Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS)

La dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS) es una técnica utilizada para estudiar estructuras de átomos o moléculas a nanoescala, así como su falta de uniformidad, midiendo la dispersión difusa de áreas de densidad de electrones desiguales. Los experimentos de SAXS se realizan en una amplia gama de campos, desde I + D hasta control de calidad.

Mediciones SAXS / WAXS para muchas aplicaciones

El sistema de medición NANOPIX SAXS / WAXS es ​​aplicable a una variedad de materiales, tales como: sólidos, líquidos, cristales líquidos o geles (con estructuras ordenadas y desordenadas). Las diversas aplicaciones incluyen: análisis de distribución de tamaño de nanopartículas, análisis de estructura de moléculas de proteínas tridimensionales, identificación de ensamblaje o desensamblaje molecular e investigación de materiales avanzados, como plásticos reforzados con fibra de carbono (CFRP).

Diseño SAXS / WAXS de ultra alto rendimiento

El sistema de medición Rigaku NANOPIX SAXS / WAXS está configurado con una fuente de rayos X de enfoque puntual de alto brillo y alta potencia, el espejo multicapa de alto rendimiento OptiSAXS, las ranuras de orificio de alto rendimiento ClearPinhole de baja dispersión y el -detector de semiconductores 2D de alto rendimiento que permite detectar difracción y dispersión incluso de materiales anisotrópicos. Opcionalmente, el detector HyPix-6000 también está disponible para mediciones de gran angular, ofreciendo un área de detección ampliada al combinar dos módulos de detección. Como una de las características, la distancia de la muestra al detector se puede cambiar dependiendo del tamaño de la estructura, desde la estructura atómica (microestructuras: 0,2 – 1 nm) hasta la estructura molecular (macroestructuras: 1 – 100 nm).

SAXS / WAXS con amplia gama experimental

NANOPIX permite realizar mediciones en diversas condiciones de temperatura o humedad, experimentos con mediciones simultáneas de DSC (calorimetría diferencial de barrido), así como mediciones en combinación con accesorios especiales u otros dispositivos externos. El control del entorno de medición es indispensable para la investigación de las relaciones estructura-propiedad de los materiales funcionales.

Características
  • Fuente de rayos X de enfoque puntual de alta potencia
  • Óptica multicapa de alto rendimiento OptiSAXS
  • Ranuras estenopeicas de alto rendimiento ClearPinhole
  • Detector HPAD 2D de alto rendimiento HyPix-3000
  • Resolución superior de ángulo pequeño (Q min a 0,02 nm -1 )
Especificaciones
Nombre del producto NANOPIX
Técnica Dispersión de rayos X de ángulo pequeño y gran angular
Beneficio SAXS / WAXS avanzados para análisis de nanoestructuras
Tecnología Instrumento de rayos X de alto flujo para SAXS / WAXS
Atributos centrales Potente fuente de rayos X con óptica OptiSAXS y detector HPC
Opciones principales GI SAXS, DSC, control de temperatura y humedad
Ordenador PC externa, sistema operativo MS Windows®, guía NANOPIX, 2DP, SAXS 1D
Dimensiones del núcleo Varía con la configuración
Masa (unidad central) Varía con la configuración
Requerimientos de energía Varía con la configuración
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