ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE ENERGÍA DISPERSIVA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF)
Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas
Descripción
Como un espectrómetro elemental premium de alto rendimiento de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (EDXRF), el nuevo Rigaku NEX DE ofrece una amplia cobertura elemental con un software QuantEZ fácil de aprender basado en Windows® . Analice de forma no destructiva de sodio (Na) a uranio (U) en casi cualquier matriz, desde sólidos y aleaciones hasta polvos, líquidos, lodos y películas delgadas.
Análisis elemental XRF en el campo, planta o laboratorio
Especialmente diseñado y fabricado para un uso industrial pesado, ya sea en las instalaciones de la planta o en entornos de campo remotos, la potencia analítica superior, la flexibilidad y la facilidad de uso del NEX DE se suman a su amplio potencial para una variedad cada vez mayor de aplicaciones, que incluyen la exploración, investigación, inspección a granel de RoHS y educación, así como aplicaciones de monitoreo industrial y de producción. Ya sea que la necesidad sea un control de calidad básico (QC) o sus variantes más sofisticadas, como el control de calidad analítico (AQC), el aseguramiento de la calidad (QA) o el control de procesos estadísticos como Six Sigma, el NEX DE es la opción confiable de alto rendimiento para el análisis elementad de XRF de rutina.
XRF con tubo de rayos X de 60 kV y detector SDD
El tubo de rayos X de 60 kV y el detector de deriva de silicio FAST SDD® enfriado por Peltier ofrecen una repetibilidad excepcional a corto plazo y una reproducibilidad a largo plazo con una excelente resolución pico del elemento. Esta capacidad de alto voltaje (60 kV), junto con una corriente de alta emisión y múltiples filtros automáticos de tubos de rayos X, proporciona un amplio rango de aplicaciones XRF, versatilidad y bajos límites de detección (LOD).
Opciones XRF: automuestreador, vacío, helio y FP sin estándar
Las opciones incluyen …
SPECIFICATIONS
Nombre del producto | NEX DE |
Técnica | Fluorescencia de rayos X (XRF) |
Ventajas | Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas |
Tecnología | XRF (EDXRF) de dispersión de energía utilizando el detector SDD |
Atributos principales | 12 W, tubo de rayos X de 60 kV, detector SDD, analice de Na a U |
Opciones principales | Purga de He, vacío, automuestreador, girador (posición única), FP |
Computadora | PC externa, sistema operativo MS Windows®, software QuantEZ |
Dimensiones principales | 356 (ancho) x 260 (alto) x 351 (profundo) mm |
Cuerpo | Aprox. 27 kg (unidad central) |
Requerimientos de energía | 1Ø, 100/220 VAC 50/60 Hz, 1.5 A |
Características
- Analice de ₁₁Na a ₉₂U de forma no destructiva.
- Potente software QuantEZ basado en Windows®.
- Sólidos, líquidos, aleaciones, polvos y películas delgadas.
- Tubo de rayos X de 60 kV para una amplia cobertura elemental.
- Detector FAST SDD® para estadísticas de conteo superiores.
- Múltiples filtros automáticos de tubo para una sensibilidad mejorada.
- Relación rendimiento / precio inigualable.
- Software opcional de parámetros fundamentales RPF-SQX.
- Software opcional de parámetros fundamentales sin estándar.
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