DE LA ENSEÑANZA DEL ANÁLISIS INSTRUMENTAL A LA INVESTIGACIÓN BÁSICA
MiniFlex , el primer difractómetro de sobremesa del mundo para enseñar esta técnica analítica, inventado por Rigaku hace más de 30 años, sentó las bases para la familia de soluciones de sobremesa actual. El XRD de sobremesa MiniFlex ha evolucionado durante las últimas tres décadas hasta convertirse en un difractómetro multiusos altamente versátil y bien establecido para I + D y la industria. Basado en este éxito, Rigaku ahora ofrece una gama de instrumentos de rayos X de sobremesa, que brindan soluciones asequibles y fáciles de usar para difracción de monocristales de moléculas pequeñas , difracción de rayos X de uso general (XRD) y fluorescencia de rayos X (XRF) . Las últimas incorporaciones son CT de sobremesa ( tomografía computarizada ), TXRF ( reflexión total XRF ) y SAXS (Instrumentos de dispersión de rayos X de ángulo pequeño que son perfectos para la investigación y la docencia universitarias.
Más allá de la instrumentación de sobremesa, Rigaku también fabrica una cartera de productos portátiles basados en espectroscopía Raman y LIBS . La familia de analizadores portátiles Rigaku proporciona una identificación rápida y precisa de varios materiales, incluidos productos farmacéuticos, metales, productos químicos, narcóticos, explosivos y más.
ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ
DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MONOCRISTALINO DE SOBREMESA Difracción de rayos X monocristalino en su mesa
ANALIZADOR DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
SISTEMA DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO CON GUÍA INTELIGENTE INCORPORADA Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos no ambientales
ESPECTRÓMETRO SECUENCIAL WDXRF DE SOBREMESA DE ALTA POTENCIA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas
