ANÁLISIS DE ELEMENTOS / FASES Y ESTRUCTURA MOLECULAR

Los métodos analíticos de rayos X tienen una larga historia como herramientas importantes para investigar y establecer hechos en tribunales penales o civiles para analizar, identificar o comparar materiales desconocidos. La fluorescencia de rayos X de puntos pequeños (XRF) es un método no destructivo para determinar la concentración y distribución de elementos químicos como residuos de Pb y Cu de los orificios de bala en la ropa, por ejemplo. La difracción de rayos X (XRD) puede identificar fases químicas en completa incógnita. Ambas técnicas permiten la cuantificación sin estándares de concentraciones de elementos y composición de fases. Espectrómetro Raman de Rigaku Progeny ResQ 1064 nm proporciona la herramienta más completa de la industria para una identificación química rápida y confiable, detección CBRNe y clasificación de narcóticos en una forma portátil simple y fácil de usar.

CT Lab GX
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ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ

NEX DE VS
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX CG
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

ZSX Primus IV
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

Supermini200
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ESPECTRÓMETRO SECUENCIAL WDXRF DE SOBREMESA DE ALTA POTENCIA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas  

MiniFlex
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INSTRUMENTO (XRD) DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X POR POLVO DE SOBREMESA Análisis de fase cualitativa y cuantitativa de materiales policristalinos