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ANÁLISIS ELEMENTAL / DE FASE A ESTRUCTURA MOLECULAR

La difracción de rayos X (XRD) y la fluorescencia de rayos X (XRF) son métodos analíticos establecidos en el descubrimiento de fármacos y el control de calidad de la producción. Desde la identificación del ingrediente activo (API) a través de remedios tradicionales o por descubrimiento fortuito hasta el llamado «diseño racional de medicamentos», Rigaku ha estado a la vanguardia en el desarrollo de instrumentos y software de difracción monocristalina para la determinación de estructuras macromoleculares y de moléculas pequeñas.. Muchos aspectos de los procesos de descubrimiento, diseño, desarrollo y formulación requieren información estructural adquirida mediante técnicas de difracción de rayos X. El análisis de fase y la identificación de polimorfos son necesidades analíticas comunes tanto en el desarrollo como en la producción farmacéutica. Rigaku ofrece una gama de instrumentos y soluciones de software para garantizar atributos de calidad críticos (CQA) y parámetros de proceso (CPP) para entornos regulados (que cumplen con la parte 11 de la FDA) y no regulados. Los productos de Rigaku van desde la detección por difracción de cristal y los sistemas de recopilación de datos de alta resolución hasta el refinamiento de estructuras 3D y el software de imágenes.

CT Lab GX
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ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ

NEX QC+
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ANALIZADOR DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX DE VS
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX CG
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

ZSX Primus IV
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

Ultima IV
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos en el plano

SmartLab SE
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SISTEMA DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO CON GUÍA INTELIGENTE INCORPORADA Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos no ambientales

Supermini200
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ESPECTRÓMETRO SECUENCIAL WDXRF DE SOBREMESA DE ALTA POTENCIA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas  

MiniFlex
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INSTRUMENTO (XRD) DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X POR POLVO DE SOBREMESA Análisis de fase cualitativa y cuantitativa de materiales policristalinos