FRINGE Family (Benchtop)
Mediante la realización de difracción de rayos X en muestras de materiales a granel, como polvos, monocristales o policristales, y el análisis de sus patrones de difracción, se obtiene información sobre la composición del material, así como sobre la estructura o la morfología de los átomos o moléculas en su interior. Es un método potente para el estudio de estructuras cristalinas.
Pequeño pero potente
Alta precisión en la identificación de fases cristalinas
Sistema de circulación de agua integrado
La solución perfecta para un laboratorio compacto
Requiere solo 10 minutos de capacitación para comenzar a operar
Simplifica la operación, permitiendo que los científicos se concentren en el análisis
FRINGE CLASS
El difractómetro de rayos X de sobremesa FRINGE CLASS es un instrumento versátil para análisis de difracción de polvos, ampliamente utilizado en investigación, ciencia de materiales y química, así como en investigación industrial y control de calidad.
FRINGE
Puede utilizarse para análisis cualitativo y cuantitativo, análisis de estructuras cristalinas, análisis de estructura de materiales y determinación de la cristalinidad en muestras en forma de polvo, bloque o película delgada.
FRINGE EVS
Diseñado para investigación en ciencia de materiales y control de calidad industrial, este instrumento se caracteriza por su alta precisión, exactitud y estabilidad, lo que lo hace adecuado para una amplia gama de aplicaciones. Ofrece a los usuarios comodidad y eficiencia en el análisis de materiales. Es la opción ideal tanto para investigación científica como para producción industrial.
FRINGE C1600
La herramienta ideal para aplicaciones analíticas en investigación de materiales, biomedicina, minerales, plásticos, semiconductores y muchos otros campos.
FRINGE EV
El difractómetro de rayos X de sobremesa FRINGE EV tiene un tamaño compacto, elimina la necesidad de instalaciones de laboratorio complejas y, con solo un enchufe estándar y unos pocos minutos, permite obtener excelentes resultados.
FRINGE D200
Con su goniómetro vertical θ-θ de alta precisión integrado, detector Xeye2D e independiente software de análisis CrystalX, este instrumento puede identificar fácilmente fases físicas, analizar estructuras cristalinas, medir tensiones residuales y evaluar la composición de diversos tipos de muestras (incluidos polvos, películas, sólidos masivos y líquidos). Esta versatilidad satisface una amplia variedad de necesidades en investigación científica y requerimientos industriales.
