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DETERMINAR LA ESTRUCTURA TRIDIMENSIONAL DE LA MATERIA.
La difracción de rayos X (XRD) es una de las herramientas no destructivas más importantes para analizar todo tipo de materia, desde fluidos hasta polvos y cristales. Desde la investigación hasta la producción y la ingeniería, la XRD es un método indispensable para la caracterización de materiales y el control de calidad. Rigaku ha desarrollado una gama de difractómetros de rayos X, en cooperación con usuarios académicos e industriales, que proporcionan las soluciones de difracción más avanzadas técnicamente, versátiles y rentables disponibles en la actualidad.

Las técnicas de difracción de rayos X se utilizan para la identificación de fases cristalinas de diversos materiales y el análisis cuantitativo de fase posterior a la identificación. Las técnicas de difracción de rayos X son superiores para dilucidar la estructura atómica tridimensional de los sólidos cristalinos. Las propiedades y funciones de los materiales dependen en gran medida de las estructuras cristalinas. Por lo tanto, las técnicas de difracción de rayos X se han utilizado ampliamente como un medio indispensable en la investigación, el desarrollo y la producción de materiales.

La ecuación de Bragg, nλ = 2dsinθ es una de las piedras angulares para comprender la difracción de rayos X. En esta ecuación, n es un número entero, λ es la longitud de onda característica de los rayos X que inciden en la muestra cristalizada, d es el espacio interplanar entre filas de átomos y θ es el ángulo del haz de rayos X con respecto a estos aviones. Cuando se satisface esta ecuación, los rayos X dispersos por los átomos en el plano de una estructura periódica están en fase y la difracción ocurre en la dirección definida por el ángulo θ. En el caso más simple, un experimento de difracción de rayos X consiste en un conjunto de intensidades difractadas y los ángulos en los que se observan. Este patrón de difracción se puede considerar como una huella química, y la identificación química se puede realizar comparando este patrón de difracción con una base de datos de patrones conocidos.

NOTAS DE APLICACIÓN

Las siguientes notas de aplicación son relevantes para esta técnica.


XRD

 

SmartLab
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) CON SOFTWARE DE ORIENTACIÓN Difracción de polvo, metrología de película delgada, SAXS, dispersión en plano, mediciones de operando