Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)
Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) de COXEM —desde el equipo de sobremesa EM-40 hasta el CX-200K de tamaño completo— se integran con los detectores EDS de Oxford Instruments (XploreCompact, Ultim Max) para entregar análisis químico elemental cuantitativo, de Berilio a Uranio, con resolución espectral certificada bajo la norma ISO 15632:2012.
Su columna electrónica de imanes permanentes elimina el enfriamiento mecánico externo y simplifica el mantenimiento. Con el módulo AZtecMineral, la microscopía se convierte en mineralogía automatizada: clasificación de partículas, mapeo de fases en tiempo real y análisis de liberación mineral, sin interrupciones.
El vacío variable (10–30 Pa) permite analizar muestras cerámicas, geológicas o biológicas altamente aislantes sin recubrimiento conductor previo, preservando la muestra original. Con navegación óptica NaviCAM y enfoque automático en 3 segundos, el sistema entrega datos reproducibles y trazables — clave para decisiones en minería, metalurgia e inspección de fallas estructurales.
