ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF)
Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
Descripción
Un analizador elemental EDXRF de sobremesa puntual pequeño (variable) de alto rendimiento, el nuevo NEX DE VS ofrece una amplia cobertura elemental con un software QuantEZ basado en Windows® fácil de aprender. Análisis de puntos pequeños, desde sodio (Na) hasta uranio (U), de casi cualquier matriz, desde sólidos, películas delgadas y aleaciones hasta polvos, líquidos, lodos y películas delgadas.
Análisis elemental XRF en campo, planta o laboratorio
Especialmente diseñado y diseñado para uso industrial pesado, ya sea en la planta o en entornos de campo remotos, el poder analítico superior, la flexibilidad y la facilidad de uso del NEX DE se suma a su amplio atractivo para una gama de aplicaciones en constante expansión, que incluyen exploración, investigación, inspección de RoHS a granel y educación, así como aplicaciones de monitoreo industrial y de producción. Ya sea que se necesite un control de calidad básico (QC) o sus variantes más sofisticadas, como el control de calidad analítico (AQC), el aseguramiento de la calidad (QA) o el control de procesos estadísticos como Six Sigma, el NEX DE es la opción confiable de alto rendimiento para elementos elementales de rutina. análisis por XRF.
XRF con tubo de rayos X de 60 kV y detector SDD
El tubo de rayos X de 60 kV y el detector de deriva de silicio FAST SDD ® refrigerado por Peltier ofrecen una repetibilidad excepcional a corto plazo y una reproducibilidad a largo plazo con una excelente resolución máxima del elemento. Esta capacidad de alto voltaje (60 kV), junto con una corriente de alta emisión y múltiples filtros de tubo de rayos X automatizados, proporciona una amplia gama de aplicaciones XRF, versatilidad y límites de detección bajos (LOD).
Opciones de XRF: inyector automático, vacío, helio y FP sin estándares
Las opciones incluyen parámetros fundamentales, una variedad de cambiadores de muestras automáticos, centrifugadora de muestras y purga de helio o atmósfera de vacío para mejorar la sensibilidad del elemento de luz. * FAST SDD ® es una marca registrada de Amptek, Inc.
- Analizar ₁₁Na a ₉₂U de forma no destructiva
- Tamaños de punto de 1, 3 y 10 mm, seleccionables por software
- Imágenes de alta resolución para un posicionamiento preciso de la muestra
- Potente QuantEZ de Windows ® software basado
- Sólidos, líquidos, aleaciones, polvos y películas delgadas
- Tubo de rayos X de 60 kV para una amplia cobertura elemental
- Detector FAST SDD ® para estadísticas de conteo superiores
- Múltiples filtros de tubo automatizados para mejorar la sensibilidad
- Relación rendimiento-precio incomparable
- Software de parámetros fundamentales RPF-SQX opcional
- Software opcional de parámetros fundamentales sin estándares
Nombre del producto | NEX DE VS |
Técnica | Fluorescencia de rayos X (XRF) |
Beneficio | Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas con un tamaño de punto de análisis variable |
Tecnología | Energía dispersiva XRF (EDXRF) usando un detector SDD con colimación seleccionable por computadora |
Atributos centrales | 12 W, tubo de rayos X de 60 kV, detector SDD, análisis de Na a U, punto variable (1,3 y 10 mm) |
Opciones principales | He-flush, vacío, muestreador automático, spinner (posición única), FP |
Ordenador | PC externo, MS Windows ® OS, el software QuantEZ |
Dimensiones del núcleo | 356 (ancho) x 260 (alto) x 351 (profundidad) mm |
Masa | Aprox. 27 kg (unidad central) |
Requerimientos de energía | 1Ø, 100/220 VCA 50/60 Hz, 1,5 A |
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