ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA

Descripción

Como espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda secuencial (WDXRF) de tubo por encima, el nuevo Rigaku ZSX Primus IV ofrece una determinación cuantitativa rápida de elementos atómicos mayores y menores, desde berilio (Be) hasta uranio (U), en una amplia variedad de tipos de muestra – con estándares mínimos.

Nuevo software XRF del sistema experto de guiado ZSX

ZSX Guidance lo apoya en todos los aspectos de la medición y el análisis de datos XRF. ¿Solo expertos pueden realizar análisis precisos? No, eso está en el pasado. El software ZSX Guidance, con la experiencia XRF incorporada y el conocimiento de expertos calificados, se encarga de configuraciones sofisticadas. Los operadores simplemente ingresan información básica sobre muestras, componentes de análisis y composición estándar. Las líneas medidas con la menor superposición, los fondos óptimos y los parámetros de corrección (incluidas las superposiciones de líneas) se configuran automáticamente con la ayuda de espectros cualitativos.

Rendimiento excepcional del elemento de luz XRF con óptica invertida para una fiabilidad superior

ZSX Primus IV presenta una innovadora configuración de óptica superior. Nunca más se preocupe por una trayectoria de haz contaminada o el tiempo de inactividad debido al mantenimiento de la cámara de muestras. La geometría de la óptica superior elimina las preocupaciones de limpieza y aumenta el tiempo de actividad. El espectrómetro ZSX Primus IV WDXRF, que proporciona un rendimiento superior con la flexibilidad para analizar las muestras más complejas, cuenta con un tubo de 30 micrones, el tubo de ventana final más delgado disponible en la industria, para límites excepcionales de detección de elementos de luz (Z bajo).

Mapeo y análisis XRF de múltiples puntos

Combinado con el paquete de mapeo más avanzado para detectar homogeneidad e inclusiones, el ZSX Primus IV permite una investigación espectrométrica XRF detallada y sencilla de muestras que brindan información analítica que no se obtiene fácilmente con otras metodologías analíticas. El análisis multipunto disponible también ayuda a eliminar errores de muestreo en materiales no homogéneos.

Parámetros fundamentales de SQX con el software EZ-scan

EZ-scan permite a los usuarios realizar análisis elementales XRF de muestras desconocidas sin ninguna configuración previa. Esta función de ahorro de tiempo requiere solo unos pocos clics del mouse y se debe ingresar un nombre de muestra. Combinado con el software de parámetros fundamentales SQX, proporciona los resultados XRF más precisos y rápidos posibles. SQX es capaz de corregir automáticamente todos los efectos de matriz, incluidas las superposiciones de líneas. SQX también puede corregir el efecto de excitación secundaria por fotoelectrones (elementos ligeros y ultraligeros), atmósferas variables, impurezas y diferentes tamaños de muestra. Se logra una mayor precisión utilizando una biblioteca de coincidencias y programas de análisis de escaneo perfectos.

• Análisis de elementos de Be a U
• Software de sistema experto ZSX Guidance
• Analizador digital multicanal (D-MCA)
• Interfaz de análisis EZ para mediciones de rutina
• El tubo por encima de la óptica minimiza los problemas de contaminación
• El tamaño reducido utiliza un espacio de laboratorio menos valioso
• Microanálisis para analizar muestras tan pequeñas como 500 µm
• El tubo de 30 μ ofrece un rendimiento superior del elemento ligero
• Característica de mapeo para topografía / distribución elemental
• El sello de helio significa que la óptica siempre está al vacío

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