La nanotecnología, que abarca una amplia gama de campos de investigación, como la biología, la química, la física y la ingeniería, tiene un carácter exclusivamente interdisciplinario. El factor común en nanotecnología es la dimensión lateral de las estructuras estudiadas. La investigación y el desarrollo de la nanotecnología, que se definen como materiales que se encuentran o tienen componentes en la milmillonésima parte (10⁻⁹) de un rango de metro, se basan en la medición precisa de las distancias atómicas y moleculares dentro de estructuras que van desde dispositivos semiconductores hasta nanopolvos. Dado que las dimensiones de las longitudes de onda de los rayos X son de la misma magnitud que el tamaño de las nanoestructuras, la difracción de rayos X ( XRD) y las técnicas asociadas son herramientas primarias para el investigador en nanotecnología. La reflectometría de rayos X (XRR) determina el grosor, la rugosidad y la densidad de la capa. La difracción de rayos X de alta resolución puede medir el grosor de la capa, la rugosidad, la composición química, el espaciado de celosía, la relajación y más. La dispersión difusa de rayos X se utiliza para determinar correlaciones laterales y transversales, distorsiones, densidad y porosidad. La difracción de incidencia de gracia en el plano se emplea para estudiar las correlaciones laterales de las capas orgánicas e inorgánicas más delgadas, así como el perfil de profundidad. Finalmente, la dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS) puede determinar el tamaño, la forma, la distribución, la orientación y la correlación de las nanopartículas presentes en sólidos o soluciones. La tecnología y la experiencia de Rigaku se combinan para proporcionar una serie de productos de difracción de rayos X para aplicaciones de nanotecnología.

CT Lab GX
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NANOPIX
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