Chemistry_Industry_800x600

La composición, estructura, propiedades, comportamiento y cambios que experimentan las sustancias durante una reacción con otras sustancias o en diferentes condiciones ambientales son características importantes del material. El análisis de elementos de los componentes principales y los oligoelementos se puede realizar con fluorescencia de rayos X (XRF), y la determinación de la estructura cristalina y el análisis de fase y la cuantificación se estudian con difracción de rayos X ( XRD ) en su laboratorio o fábrica. El análisis de rayos X examina polvos, sólidos, líquidos, pastas, películas o monocristales. Rigaku ofrece una amplia gama de soluciones tanto para la investigación académica como para aplicaciones industriales para cualquier composición y tipo de información estructural obtenible por rayos X: XRD ( difracción de rayos X ) en combinación conDSC , CT ( tomografía computarizada ), Raman de mano , LIBS de mano , SAXS ( dispersión de rayos X de ángulo pequeño ), WAXS ( dispersión de rayos X de gran angular ), XRR ( reflectividad de rayos X ) y XRT ( topografía de rayos X ) .

CT Lab GX
CT Lab GX

ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ

NEX QC+
NEX QC+

ANALIZADOR DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX QC
NEX QC

ANALIZADOR DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE BAJO COSTO (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

NEX DE VS
NEX DE VS

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX CG
NEX CG

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

SmartLab
SmartLab

DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) CON SOFTWARE DE ORIENTACIÓN Difracción de polvo, metrología de película delgada, SAXS, dispersión en plano, mediciones de operando

Supermini200
Supermini200

ESPECTRÓMETRO SECUENCIAL WDXRF DE SOBREMESA DE ALTA POTENCIA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas  

MiniFlex
MiniFlex

INSTRUMENTO (XRD) DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X POR POLVO DE SOBREMESA Análisis de fase cualitativa y cuantitativa de materiales policristalinos