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La composición, estructura, propiedades, comportamiento y cambios que experimentan las sustancias durante una reacción con otras sustancias o en diferentes condiciones ambientales son características importantes del material. El análisis de elementos de los componentes principales y los oligoelementos se puede realizar con fluorescencia de rayos X (XRF), y la determinación de la estructura cristalina y el análisis de fase y la cuantificación se estudian con difracción de rayos X ( XRD ) en su laboratorio o fábrica. El análisis de rayos X examina polvos, sólidos, líquidos, pastas, películas o monocristales. Rigaku ofrece una amplia gama de soluciones tanto para la investigación académica como para aplicaciones industriales para cualquier composición y tipo de información estructural obtenible por rayos X: XRD ( difracción de rayos X ) en combinación conDSC , CT ( tomografía computarizada ), Raman de mano , LIBS de mano , SAXS ( dispersión de rayos X de ángulo pequeño ), WAXS ( dispersión de rayos X de gran angular ), XRR ( reflectividad de rayos X ) y XRT ( topografía de rayos X ) .

CT Lab GX
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ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ

XtaLAB mini II
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MONOCRISTALINO DE SOBREMESA Difracción de rayos X monocristalino en su mesa  

XtaLAB Synergy-i
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NEX DE VS
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Ultima IV
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos en el plano

SmartLab SE
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SISTEMA DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO CON GUÍA INTELIGENTE INCORPORADA Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos no ambientales

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