ANÁLISIS DE FASES, ELEMENTAL Y QUÍMICO
Al estudiar los procesos planetarios y la composición de la Tierra, los geólogos analizan de forma rutinaria la composición y estructura molecular de las muestras de rocas y minerales. Habiendo sido durante mucho tiempo herramientas centrales en la investigación geológica, las técnicas analíticas de rayos X se han vuelto más poderosas con excitación de puntos pequeños, mapeo y análisis cuantitativo sin estándares. La fluorescencia de rayos X (XRF) es la técnica clave para caracterizar la composición de elementos de los materiales geológicos. La última generación de instrumentación XRF de dispersión de longitud de onda emplea un área de análisis pequeña y una etapa XY para realizar automáticamente múltiples mediciones de una muestra para producir un mapa de composición química. Difracción de rayos X ( XRD) se emplea para medir cuantitativamente la composición de las fases. El análisis de Rietveld de datos de difracción de rayos X ahora se reconoce como el método más poderoso disponible para el análisis cuantitativo de fase cristalina. La tecnología y la experiencia de Rigaku proporcionan una serie de soluciones únicas para estas determinaciones.
ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DISPERSIVO DE LONGITUD DE ONDA SECUENCIAL POR DEBAJO DEL TUBO Análisis de rayos X sin concesiones de líquidos, aleaciones y metales enchapados
DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos en el plano
SISTEMA DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO CON GUÍA INTELIGENTE INCORPORADA Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos no ambientales
