AGUAS RESIDUALES, SUELOS Y SEDIMENTOS SEGÚN ROHS
Para el monitoreo de sedimentos, suelos, aire y agua contaminados y clasificación de materiales para reciclaje, la fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud de onda (WDXRF) es la técnica analítica no destructiva de elección para cumplir con los requisitos de la EPA de EE. UU. Para concentraciones de metales pesados (RCRA metales) y las normativas medioambientales de la Unión Europea (CE) de RoHS / WEEE. Las soluciones y servicios de Rigaku para sus pruebas no destructivas son esenciales para la estrategia de recuperación y reciclaje de su producto «al final de la vida útil».
El Z-901 presenta un diseño ergonómico completamente nuevo, una reducción de peso de 0.5 libras hasta aproximadamente 3.5 libras. (1,6 kg), disipación de calor mejorada y software y electrónica de procesamiento completamente actualizado.
ESPECTRÓMETRO DE MESA DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE REFLEXIÓN TOTAL (TXRF) Análisis elemental de trazas rápidas y caracterización de películas delgadas
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos en el plano
SISTEMA DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO CON GUÍA INTELIGENTE INCORPORADA Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos no ambientales
ESPECTRÓMETRO SECUENCIAL WDXRF DE SOBREMESA DE ALTA POTENCIA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas
