
La mejor relación calidad-precio cuando la clasificación de aluminio es diaria, pero no el principal objetivo. Requiere una prueba del segundo haz de 8-10 s para Mg al 0,8% en base de Al. Requiere 5-6 segundos de tiempo de prueba de haz 2 para Al, Si, S y P. Requiere 15-20 s para medir 0.3-0.5% Mg en grados como 6063 o 356 o 3004.
Aprende nuestras pistolas de rayos X y láser para su procesamiento de chatarra
Analizadores láser y de rayos X diseñados, construidos y respaldados por personas con más de 20 años de experiencia en la industria de clasificación de chatarra.

ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ

ANALIZADOR DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X POR DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE PROCESO Análisis elemental de procesos en línea y en tiempo real

ANALIZADOR DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DISPERSIVO DE LONGITUD DE ONDA SECUENCIAL POR DEBAJO DEL TUBO Análisis de rayos X sin concesiones de líquidos, aleaciones y metales enchapados

ESPECTRÓMETRO SECUENCIAL WDXRF DE SOBREMESA DE ALTA POTENCIA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE ENERGÍA DISPERSIVA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas
Todos los derechos reservados - Tech Corp