ANÁLISIS DE ELEMENTOS Y FASES, TAMAÑOS DE PARTÍCULAS Y ESTRUCTURA MOLECULAR

Para todas las tareas de investigación, desarrollo y control de calidad de la producción de polímeros, el análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) puede identificar y cuantificar las concentraciones de aditivos (pigmentos, cargas, retardadores de llama, estabilizadores) como antimonio, bario, bromo, calcio, cromo. (de acuerdo con las regulaciones RoHS / WEEE), cobre, fósforo, titanio o zinc. Además, muchos polímeros plásticos tienen algún grado de orden que se puede identificar y estudiar por difracción de rayos X ( XRD) métodos. El porcentaje de cristalinidad, medido con XRD, puede correlacionarse con los métodos de procesamiento. La determinación del tipo de celda unitaria, los parámetros de la red, la microestructura y la orientación cristalográfica a través de figuras polares puede ser de importancia. Las estructuras periódicas o cristalinas en la nanoescala se pueden examinar mediante Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS) y Dispersión de rayos X de ángulo amplio (WAXS). Rigaku ofrece instrumentos y servicios integrales para todos los métodos.

CT Lab GX
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ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ

NEX QC+
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ANALIZADOR DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX CG
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

ZSX Primus IV
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DISPERSIVO DE LONGITUD DE ONDA SECUENCIAL POR DEBAJO DEL TUBO Análisis de rayos X sin concesiones de líquidos, aleaciones y metales enchapados

Ultima IV
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos en el plano

SmartLab SE
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SISTEMA DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO CON GUÍA INTELIGENTE INCORPORADA Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos no ambientales

Supermini200
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ESPECTRÓMETRO SECUENCIAL WDXRF DE SOBREMESA DE ALTA POTENCIA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas  

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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE ENERGÍA DISPERSIVA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas  

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INSTRUMENTO (XRD) DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X POR POLVO DE SOBREMESA Análisis de fase cualitativa y cuantitativa de materiales policristalinos