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DESDE SI SOBRE PLÁSTICO HASTA PILAS DE OBLEAS SEMICONDUCTORAS

Todos los aspectos de la vida moderna se benefician de la tecnología de recubrimiento o película fina. Ya sea una película de capa de barrera en un chip de circuito integrado o un recubrimiento de conversión en una lata de bebida de aluminio, las técnicas analíticas de rayos X son parte integral del desarrollo de I + D, el control del proceso de producción y la garantía de calidad. La fluorescencia de rayos X (XRF) puede determinar el espesor y la composición elemental de los recubrimientos metálicos. La reflectometría de rayos X (XRR), comúnmente empleada en el proceso de fabricación de semiconductores como herramienta de metrología, se utiliza para medir el grosor de las capas en una pila de recubrimientos de varias capas y también puede caracterizar otras propiedades de recubrimiento como la rugosidad y la difusión entre capas. Emergiendo como un habilitador líder para la investigación en nanotecnología, la difracción de rayos X ( XRD) y técnicas asociadas se emplean para examinar la naturaleza de la estructura molecular de las películas. La tecnología y la experiencia de Rigaku brindan una variedad de soluciones analíticas no destructivas para la medición de recubrimientos y películas delgadas.

CT Lab GX
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ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ

NEX QC+
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ANALIZADOR DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX DE VS
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX CG
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

ZSX Primus IV
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

ZSX Primus IV𝒾
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DISPERSIVO DE LONGITUD DE ONDA SECUENCIAL POR DEBAJO DEL TUBO Análisis de rayos X sin concesiones de líquidos, aleaciones y metales enchapados

SmartLab
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) CON SOFTWARE DE ORIENTACIÓN Difracción de polvo, metrología de película delgada, SAXS, dispersión en plano, mediciones de operando

Supermini200
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ESPECTRÓMETRO SECUENCIAL WDXRF DE SOBREMESA DE ALTA POTENCIA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas  

MiniFlex
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INSTRUMENTO (XRD) DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X POR POLVO DE SOBREMESA Análisis de fase cualitativa y cuantitativa de materiales policristalinos