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ANÁLISIS DE ELEMENTOS / FASES Y ESTRUCTURA MOLECULAR

La caracterización y el análisis de la composición de sustancias como metales, cerámicas o plásticos que forman parte de cualquier aplicación, incluida la ciencia espacial, la tecnología de defensa o cualquier otro tipo de tecnología o producto, son clave en la ciencia de los materiales. La tecnología de rayos X puede investigar la composición elemental y el espesor de la capa mediante fluorescencia de rayos X (XRF) en semiconductores u otros materiales nuevos. La Difracción y Dispersión de Rayos X son técnicas primarias para estudiar las fases cristalinas, su grado de cristalinidad o estructura y orientación cristalográfica, textura o tensión residual. XRT ( topografía de rayos X ) investiga defectos cristalinos en materiales avanzados como semiconductores y reflectometría de rayos X(XRR) mide el grosor de las capas, la rugosidad y la difusión entre capas. Los métodos de dispersión difusa asociados como SAXS examinan la naturaleza de la estructura molecular de películas, recubrimientos y capas o partículas en disciplinas como biología, química, física e ingeniería. La tecnología avanzada y la experiencia de Rigaku brindan una variedad de soluciones y servicios analíticos no destructivos y de vanguardia para sus materiales. 

NEX DE VS
NEX DE VS

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX CG
NEX CG

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

ZSX Primus IV
ZSX Primus IV

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

NEX DE
NEX DE

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE ENERGÍA DISPERSIVA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas  

MiniFlex
MiniFlex

INSTRUMENTO (XRD) DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X POR POLVO DE SOBREMESA Análisis de fase cualitativa y cuantitativa de materiales policristalinos