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ANÁLISIS DE ELEMENTOS / FASES Y ESTRUCTURA MOLECULAR

La caracterización y el análisis de la composición de sustancias como metales, cerámicas o plásticos que forman parte de cualquier aplicación, incluida la ciencia espacial, la tecnología de defensa o cualquier otro tipo de tecnología o producto, son clave en la ciencia de los materiales. La tecnología de rayos X puede investigar la composición elemental y el espesor de la capa mediante fluorescencia de rayos X (XRF) en semiconductores u otros materiales nuevos. La Difracción y Dispersión de Rayos X son técnicas primarias para estudiar las fases cristalinas, su grado de cristalinidad o estructura y orientación cristalográfica, textura o tensión residual. XRT ( topografía de rayos X ) investiga defectos cristalinos en materiales avanzados como semiconductores y reflectometría de rayos X(XRR) mide el grosor de las capas, la rugosidad y la difusión entre capas. Los métodos de dispersión difusa asociados como SAXS examinan la naturaleza de la estructura molecular de películas, recubrimientos y capas o partículas en disciplinas como biología, química, física e ingeniería. La tecnología avanzada y la experiencia de Rigaku brindan una variedad de soluciones y servicios analíticos no destructivos y de vanguardia para sus materiales. 

XRTmicron
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SISTEMA DE IMÁGENES DE TOPOGRAFÍA DE RAYOS X Para evaluación no destructiva de materiales monocristalinos

CT Lab GX
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ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ

XtaLAB mini II
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MONOCRISTALINO DE SOBREMESA Difracción de rayos X monocristalino en su mesa  

XtaLAB Synergy-i
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UN DIFRACTÓMETRO MODERNO DE TAMAÑO COMPLETO PARA CRISTALOGRAFÍA QUÍMICA Un difractómetro de rayos X de cristal único construido con las últimas tecnologías para el análisis estructural de muestras de moléculas pequeñas

NEX DE VS
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX CG
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

ZSX Primus IV
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

HyPix-3000
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DETECTOR DE RAYOS X COMPACTO DE CONTEO DE FOTONES Detector de rayos X de semiconductores bidimensionales

AutoMATE II
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SISTEMA DE MEDICIÓN DE TENSIÓN RESIDUAL POR RAYOS X DE MICROÁREA Esfuerzo residual de microárea de alta precisión con métodos de inclinación lateral e isométrica

Ultima IV
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos en el plano

SmartLab SE
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SISTEMA DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO CON GUÍA INTELIGENTE INCORPORADA Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos no ambientales

SmartLab
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) CON SOFTWARE DE ORIENTACIÓN Difracción de polvo, metrología de película delgada, SAXS, dispersión en plano, mediciones de operando