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ANÁLISIS DE FASES, ELEMENTAL Y QUÍMICO

Al estudiar los procesos planetarios y la composición de la Tierra, los geólogos analizan de forma rutinaria la composición y estructura molecular de las muestras de rocas y minerales. Habiendo sido durante mucho tiempo herramientas centrales en la investigación geológica, las técnicas analíticas de rayos X se han vuelto más poderosas con excitación de puntos pequeños, mapeo y análisis cuantitativo sin estándares. La fluorescencia de rayos X (XRF) es la técnica clave para caracterizar la composición de elementos de los materiales geológicos. La última generación de instrumentación XRF de dispersión de longitud de onda emplea un área de análisis pequeña y una etapa XY para realizar automáticamente múltiples mediciones de una muestra para producir un mapa de composición química. Difracción de rayos X ( XRD) se emplea para medir cuantitativamente la composición de las fases. El análisis de Rietveld de datos de difracción de rayos X ahora se reconoce como el método más poderoso disponible para el análisis cuantitativo de fase cristalina. La tecnología y la experiencia de Rigaku proporcionan una serie de soluciones únicas para estas determinaciones.

CT Lab GX
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ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ

XtaLAB mini II
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MONOCRISTALINO DE SOBREMESA Difracción de rayos X monocristalino en su mesa  

XtaLAB Synergy-i
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UN DIFRACTÓMETRO MODERNO DE TAMAÑO COMPLETO PARA CRISTALOGRAFÍA QUÍMICA Un difractómetro de rayos X de cristal único construido con las últimas tecnologías para el análisis estructural de muestras de moléculas pequeñas

NEX DE VS
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX CG
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

ZSX Primus IV
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

ZSX Primus IV𝒾
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DISPERSIVO DE LONGITUD DE ONDA SECUENCIAL POR DEBAJO DEL TUBO Análisis de rayos X sin concesiones de líquidos, aleaciones y metales enchapados

HyPix-3000
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DETECTOR DE RAYOS X COMPACTO DE CONTEO DE FOTONES Detector de rayos X de semiconductores bidimensionales

Ultima IV
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DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos en el plano

SmartLab SE
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SISTEMA DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO CON GUÍA INTELIGENTE INCORPORADA Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos no ambientales

Supermini200
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ESPECTRÓMETRO SECUENCIAL WDXRF DE SOBREMESA DE ALTA POTENCIA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas  

NEX DE
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE ENERGÍA DISPERSIVA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas