GeologyMinerals_Industry_800x600

ANÁLISIS DE FASES, ELEMENTAL Y QUÍMICO

Al estudiar los procesos planetarios y la composición de la Tierra, los geólogos analizan de forma rutinaria la composición y estructura molecular de las muestras de rocas y minerales. Habiendo sido durante mucho tiempo herramientas centrales en la investigación geológica, las técnicas analíticas de rayos X se han vuelto más poderosas con excitación de puntos pequeños, mapeo y análisis cuantitativo sin estándares. La fluorescencia de rayos X (XRF) es la técnica clave para caracterizar la composición de elementos de los materiales geológicos. La última generación de instrumentación XRF de dispersión de longitud de onda emplea un área de análisis pequeña y una etapa XY para realizar automáticamente múltiples mediciones de una muestra para producir un mapa de composición química. Difracción de rayos X ( XRD) se emplea para medir cuantitativamente la composición de las fases. El análisis de Rietveld de datos de difracción de rayos X ahora se reconoce como el método más poderoso disponible para el análisis cuantitativo de fase cristalina. La tecnología y la experiencia de Rigaku proporcionan una serie de soluciones únicas para estas determinaciones.

CT Lab GX
CT Lab GX

ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ

NEX DE VS
NEX DE VS

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX CG
NEX CG

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

ZSX Primus IV
ZSX Primus IV

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.  

Supermini200
Supermini200

ESPECTRÓMETRO SECUENCIAL WDXRF DE SOBREMESA DE ALTA POTENCIA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas  

NEX DE
NEX DE

ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE ENERGÍA DISPERSIVA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas  

MiniFlex
MiniFlex

INSTRUMENTO (XRD) DE DIFRACCIÓN DE RAYOS X POR POLVO DE SOBREMESA Análisis de fase cualitativa y cuantitativa de materiales policristalinos