DESDE SI SOBRE PLÁSTICO HASTA PILAS DE OBLEAS SEMICONDUCTORAS
Todos los aspectos de la vida moderna se benefician de la tecnología de recubrimiento o película fina. Ya sea una película de capa de barrera en un chip de circuito integrado o un recubrimiento de conversión en una lata de bebida de aluminio, las técnicas analíticas de rayos X son parte integral del desarrollo de I + D, el control del proceso de producción y la garantía de calidad. La fluorescencia de rayos X (XRF) puede determinar el espesor y la composición elemental de los recubrimientos metálicos. La reflectometría de rayos X (XRR), comúnmente empleada en el proceso de fabricación de semiconductores como herramienta de metrología, se utiliza para medir el grosor de las capas en una pila de recubrimientos de varias capas y también puede caracterizar otras propiedades de recubrimiento como la rugosidad y la difusión entre capas. Emergiendo como un habilitador líder para la investigación en nanotecnología, la difracción de rayos X ( XRD) y técnicas asociadas se emplean para examinar la naturaleza de la estructura molecular de las películas. La tecnología y la experiencia de Rigaku brindan una variedad de soluciones analíticas no destructivas para la medición de recubrimientos y películas delgadas.
ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ
ANALIZADOR DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
ANALIZADOR DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE BAJO COSTO (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DISPERSIVO DE LONGITUD DE ONDA SECUENCIAL POR DEBAJO DEL TUBO Análisis de rayos X sin concesiones de líquidos, aleaciones y metales enchapados
DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) CON SOFTWARE DE ORIENTACIÓN Difracción de polvo, metrología de película delgada, SAXS, dispersión en plano, mediciones de operando
ESPECTRÓMETRO SECUENCIAL WDXRF DE SOBREMESA DE ALTA POTENCIA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas
