DESDE SI SOBRE PLÁSTICO HASTA PILAS DE OBLEAS SEMICONDUCTORAS
Todos los aspectos de la vida moderna se benefician de la tecnología de recubrimiento o película fina. Ya sea una película de capa de barrera en un chip de circuito integrado o un recubrimiento de conversión en una lata de bebida de aluminio, las técnicas analíticas de rayos X son parte integral del desarrollo de I + D, el control del proceso de producción y la garantía de calidad. La fluorescencia de rayos X (XRF) puede determinar el espesor y la composición elemental de los recubrimientos metálicos. La reflectometría de rayos X (XRR), comúnmente empleada en el proceso de fabricación de semiconductores como herramienta de metrología, se utiliza para medir el grosor de las capas en una pila de recubrimientos de varias capas y también puede caracterizar otras propiedades de recubrimiento como la rugosidad y la difusión entre capas. Emergiendo como un habilitador líder para la investigación en nanotecnología, la difracción de rayos X ( XRD) y técnicas asociadas se emplean para examinar la naturaleza de la estructura molecular de las películas. La tecnología y la experiencia de Rigaku brindan una variedad de soluciones analíticas no destructivas para la medición de recubrimientos y películas delgadas.
