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La fluorescencia de rayos X (XRF) proporciona uno de los métodos analíticos más simples, precisos y económicos para la determinación de la composición elemental de muchos tipos de materiales. Indispensables tanto para las funciones de I + D como de garantía de calidad (QA), nuestros productos WDXRF, exclusivos y avanzados, se utilizan habitualmente para analizar productos, desde cemento hasta plásticos y desde metales hasta alimentos y obleas semiconductoras. Las ofertas de Rigaku van desde sistemas WDXRF dispersivos de longitud de onda de alto rendimiento y alta potencia, para las aplicaciones más exigentes, hasta una línea completa de sistemas EDXRF y WDXRF de sobremesa.

Teoría de la fluorescencia de rayos X
Esquema de fluorescencia de rayos XEn la fluorescencia de rayos X (XRF), un electrón puede ser expulsado de su orbital atómico mediante la absorción de una onda de luz (fotón) de energía suficiente. La energía del fotón (hν) debe ser mayor que la energía con la que el electrón está unido al núcleo del átomo. Cuando un electrón orbital interno es expulsado de un átomo (imagen del medio), un electrón de un orbital de mayor nivel de energía será transferido al orbital de menor nivel de energía. Durante esta transición, es posible que el átomo emita un fotón (imagen inferior). Esta luz fluorescente se llama rayos X característicos del elemento. La energía del fotón emitido será igual a la diferencia de energías entre los dos orbitales ocupados por el electrón que realiza la transición. Debido a que la diferencia de energía entre dos capas orbitales específicas, en un elemento dado, es siempre la misma (es decir, característica de un elemento en particular), el fotón emitido cuando un electrón se mueve entre estos dos niveles, siempre tendrá la misma energía. Por lo tanto, al determinar la energía (longitud de onda) de la luz de rayos X (fotón) emitida por un elemento en particular, es posible determinar la identidad de ese elemento.

NEX QC+
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ANALIZADOR DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.

NEX DE VS
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NEX CG
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ZSX Primus IV
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NEX DE
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ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE ENERGÍA DISPERSIVA DE ALTA RESOLUCIÓN (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas