![MaterialScience_Industry_800x600](https://www.techcorp.cl/wp-content/uploads/2021/05/MaterialScience_Industry_800x600-600x450.jpg)
ANÁLISIS DE ELEMENTOS / FASES Y ESTRUCTURA MOLECULAR
La caracterización y el análisis de la composición de sustancias como metales, cerámicas o plásticos que forman parte de cualquier aplicación, incluida la ciencia espacial, la tecnología de defensa o cualquier otro tipo de tecnología o producto, son clave en la ciencia de los materiales. La tecnología de rayos X puede investigar la composición elemental y el espesor de la capa mediante fluorescencia de rayos X (XRF) en semiconductores u otros materiales nuevos. La Difracción y Dispersión de Rayos X son técnicas primarias para estudiar las fases cristalinas, su grado de cristalinidad o estructura y orientación cristalográfica, textura o tensión residual. XRT ( topografía de rayos X ) investiga defectos cristalinos en materiales avanzados como semiconductores y reflectometría de rayos X(XRR) mide el grosor de las capas, la rugosidad y la difusión entre capas. Los métodos de dispersión difusa asociados como SAXS examinan la naturaleza de la estructura molecular de películas, recubrimientos y capas o partículas en disciplinas como biología, química, física e ingeniería. La tecnología avanzada y la experiencia de Rigaku brindan una variedad de soluciones y servicios analíticos no destructivos y de vanguardia para sus materiales.
![XRTmicron](https://www.techcorp.cl/wp-content/uploads/2021/05/800x610-XRTmicron_picture_2019.01.31-210x160.jpg)
SISTEMA DE IMÁGENES DE TOPOGRAFÍA DE RAYOS X Para evaluación no destructiva de materiales monocristalinos
![CT Lab GX](https://www.techcorp.cl/wp-content/uploads/2021/05/800x610-CT-Lab-open_picture_Ver1_2018.11.23-210x160.jpg)
ESCÁNER DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA DE RAYOS X DE ALTA VELOCIDAD PARA MUESTRAS ESTACIONARIAS Compatible ex vivo, in vivo, ultrarrápido in situ
![XtaLAB mini II](https://www.techcorp.cl/wp-content/uploads/2021/05/800x610-XtaLAB-mini-II_picture_Ver2_2018.11.15-210x160.jpg)
DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MONOCRISTALINO DE SOBREMESA Difracción de rayos X monocristalino en su mesa
![XtaLAB Synergy-i](https://www.techcorp.cl/wp-content/uploads/2021/05/800x610-XtaLAB-Synergy-i-Enclosure_picture_Ver1_2018.11.15-210x160.jpg)
UN DIFRACTÓMETRO MODERNO DE TAMAÑO COMPLETO PARA CRISTALOGRAFÍA QUÍMICA Un difractómetro de rayos X de cristal único construido con las últimas tecnologías para el análisis estructural de muestras de moléculas pequeñas
![NEX DE VS](https://www.techcorp.cl/wp-content/uploads/2021/05/800x610-NEX-DE-VS-workstation_picture_127_2018.11.16-210x160.jpg)
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE TAMAÑO DE PUNTO VARIABLE (EDXRF) Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
![NEX CG](https://www.techcorp.cl/wp-content/uploads/2021/05/800x610-NEX-CG-workstation_picture_2018.11.14-210x160.jpg)
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN DE ENERGÍA DE GEOMETRÍA CARTESIANA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
![ZSX Primus IV](https://www.techcorp.cl/wp-content/uploads/2021/05/800x610-ZSX-Primus-IV_picture_2018.12.06_0-1-210x160.jpg)
ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X DE DISPERSIÓN SECUENCIAL DE LONGITUD DE ONDA DE TUBO POR ENCIMA Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas.
![HyPix-3000](https://www.techcorp.cl/wp-content/uploads/2021/05/800x610-HyPix-3000_picture_Ver1_2018.10.06-210x160.jpg)
DETECTOR DE RAYOS X COMPACTO DE CONTEO DE FOTONES Detector de rayos X de semiconductores bidimensionales
![AutoMATE II](https://www.techcorp.cl/wp-content/uploads/2021/05/800x610-AutoMATE-II-open_picture_2018.12.05-210x160.jpg)
SISTEMA DE MEDICIÓN DE TENSIÓN RESIDUAL POR RAYOS X DE MICROÁREA Esfuerzo residual de microárea de alta precisión con métodos de inclinación lateral e isométrica
![Ultima IV](https://www.techcorp.cl/wp-content/uploads/2021/05/800x610-Ultima-IV_picture_2018.12.03-210x160.jpg)
DIFRACTÓMETRO DE RAYOS X MULTIPROPÓSITO AUTOMATIZADO (XRD) Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos en el plano